更新時間：2024-06-20
儀器型號：
LCR-827高精密LCR測試儀特性：測試頻率：12Hz ~ 100kHz, 503 點0.05% 高量測準確度 (LCR-817/819)
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中國臺灣固緯 GWinstek LCR-827高精密LCR測試儀 LCR-827高精密LCR測試儀特性：
測試頻率：12Hz ~ 100kHz, 503 點
0.05% 高量測準確度 （LCR-817/819）
0.1% 高量測準確度 （LCR-816/826/827/829）
100 組設定條件記憶儲存、呼出功能
R/Q, C/D, C/R, L/Q 測試模式
值、差異值（△ ）、差異百分比（△%）顯示
240 x 128 大型 LCD 顯示幕
選別機介面 （LCR-826/827/829）
測試條件及測試結(jié)果同時顯示在螢幕上 LCR-827高精密LCR測試儀詳細介紹
規(guī) 格 測試頻率 12Hz to 100kHz （503 點） for LCR-819/829 12Hz to 10kHz （489 點） for LCR-817/827 100Hz to 2kHz （245 點） for LCR-816/826 準確度 0.05% （LCR-817/819） , 0.1%（LCR-816/826/827/829） 測試速度 34mS （LCR-826/827/829）, 68mS （LCR-816/817/819） 測試電壓 5mV ~ 1.275V （5mV/step） for LCR-817/819/827/829 0.1V ~ 1.275V （5mV/step） for LCR-816/826 直流偏壓 內(nèi)部 2V 外部 0 to 30V 顯示范圍 串/并聯(lián)等效阻抗 R 0.00001 ~ 99999k 電容 C 0.00001pF ~ 99999uF 電感 L 0.00001mH ~ 99999H 品質(zhì)因素 Q 0.0001 ~ 9999 散逸因素 D 0.0001 ~ 9999 量測模式 R/Q, C/D, C/R, L/Q 等效電路 具串聯(lián)與并聯(lián)兩種方式可供選擇 記憶體 100 組 平均測試值 1 to 255 次 量測速度 慢速、中速及快速 量測值顯示 Value, △%, △ 顯示幕 240 x 128 dot matrix C.C.F.L back light LCD 介面 Handler 介面 （LCR-829/827） 使用電源 100V ~ 240V, 50/60Hz 附件 電源線 x 1,
操作手冊 x 1,
測試制具: LCR-06A x 1
選購測試制具: LCR-05, LCR-07, LCR-08, LCR-09 尺寸及重量 330（寬） x 149（高） x 437（長）mm, 約 5.5 公斤
LCR-05 LCR-06A LCR-07 LCR-08 LCR-09
零 組 件 測 試 儀 器 機 種 主要功能或用途 LCR - 821 高精密LCR測試儀 12 ~ 200kHz （504 steps） LCR - 819/829 高精密LCR測試儀 12 ~ 100kHz （503 steps） LCR - 817/827 高精密LCR測試儀 12 ~ 10kHz （489 steps） LCR - 816/826 高精密LCR測試儀 12 ~ 2kHz （245 steps）
深圳市偉峰儀器儀表有限公司
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